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晶体管参数测试仪 型号:JFY3022A 金洋万达
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晶体管参数测试仪 型号:JFY3022A 金洋万达

N型三极管,P型三极管,N型MOS场效应管,P型MOS场效应管N型结型场效应管,正负三端稳压IC,三端肖特基,基准器431,整流二极管,整流桥堆,可控硅,稳压二极管.

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  • 地   址:
    北京 房山区 良乡凯旋大街建设路18号-D4315
产品特性:操作简单是否进口:否产地:中国
加工定制:否品牌:晶体管参数测试仪型号:JFY3022A
类型:晶体管参数测试仪外形尺寸:680mm重量:3Kg
产品用途:晶体管参数测试仪规格:晶体管参数测试仪



概述:

JFY3022A晶体管参数测试仪,是一种用于各种电子元件参数测试的多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。

测量元件类型:

N型三极管,P型三极管,N型MOS场效应管,P型MOS场效应管N型结型场效应管,正负三端稳压IC,三端肖特基,基准器431,整流二极管,整流桥堆,可控硅,稳压二极管.

测量参数:

整流二极管,三端肖特基,整流桥堆:

参数項

测试参数

测试条件设置

正向压降(VF)

0-2.000V

0-2.000A

耐压(VRR)

0-1500V

0-2.000MA

N型三极管:

参数項

测试参数

测试条件设置

输入正向压降(VBE)

0-2.000V

0-2.000A

耐压(BVCEO)

0-1500V

0-2.000MA

放大倍数(HEF)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

饱和压降(Vsat)

0-2.000V

IB:0-2.00A IC:0-2.00A

P型三极管:

参数項

测试参数

测试条件设置

输入正向压降(VBE)

0-2.000V

0-2.000A

耐压(BVCEO)

0-1500V

0-2.000MA

放大倍数(HEF)

0-3000

VCE:5.0V IB:100uA

饱和压降(Vsat)

0-2.000V

IB:0-2.00A IC:0-2.00A

N,P型MOS场效应管:

参数項

测试参数

测试条件设置

启动电压(VGS(th))

0-20.00V

0-2.000mA

耐压(BVCEO)

0-1500V

0-2.000mA

导通内阻(Rson)

0.1Mr-200R

Vgs:0-20V Id:0-2.000A

单双向可控硅:

参数項

测试参数

测试条件设置

触发电流(IGT)

0-40.MA

VD=0-20V,ID=0-2.000A

触发电压(VGT)

0-2.000V

VD=0-20V,ID=0-2.000A

耐压(VDRM VRRM)

0-1500V

0-2.000mA

通态压降(VTM)

0-2.000V

IT:0-2.00A

三端稳压IC:

参数項

测试参数

测试条件设置

输出电压(Vo)

0-20.00V

Vin:0-20V Io:0-2.00A

基准IC 431:

参数項

测试参数

测试条件设置

输出电压(Vo)

0-20.00V

IZ:0-200mA

稳压二极管:

参数項

测试参数

测试条件设置

稳压值(VZ)

0-20V

0-100MA

稳压值(VZ)

20-200V

0-2.000MA

公司承诺:质量服务承诺:

1.保修期一年,终生免费维护。

2.在保修期内,除人为因素外,任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。

3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后,十分钟内回应.

4.及时向用户以优惠的价格提供所需的备品备件和易

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